ZAP-IT 激光校準紙

ZAP-IT激光校準紙

ZAP-IT®激光校準紙10x10英寸

型號：Z3T-1010-50

每包50張。每張紙為(wei) 10 x 10英寸。 厚度為(wei) 0.25mm。

背麵為(wei) 純白色。帶封口的塑料袋。

Z3T ZAP-IT®激光校準紙6x6英寸

型號：Z3T-66-100

100張裝在有封口的塑料袋中。每張紙為(wei) 6 x 6英寸。厚度為(wei) 0.25mm。

正麵采用緞麵黑色專(zhuan) 有塗層。純白背。

Z3T ZAP-IT帶網格的激光校準紙4x8英寸

型號：Z3T-48G-50

Zap It新技術網格校準紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙為(wei) 4 x 8英寸。厚度為(wei) 0.25mm。

正麵采用緞黑色專(zhuan) li塗層。純白色背麵，無印刷。具有2mm網格圖案。

Z3TZAP-IT®激光校準紙4 x 8英寸

型號：Z3T-48-50

Z3T-48-50 Zap-It新技術校準紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙為(wei) 4 x 8英寸。厚度為(wei) 0.25mm。

正麵采用緞麵黑色專(zhuan) 有塗層。背麵為(wei) 純白色，無印刷。

Z3T ZAP-IT®激光校準紙2 x 5英寸

型號：Z3T-25-50

Zap-It新技術校準紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙是2x5英寸。 厚度為(wei) 0.25mm。

正麵采用緞麵黑色專(zhuan) 有塗層。背麵為(wei) 純白色，無印刷。

ZAP-IT低能耗激光校準紙靶

型號：ZL-22 (ZL22),
ZL-25 (ZL25),
ZL-48 (ZL48)(已停產(chan) )。ZAP-IT®低能耗激光校準紙靶有2種尺寸。

ZL-22：2 x 2.2英寸，帶有四個(ge) 細線，十字準線目標。100張/包。厚度為(wei) 0.11mm。卡背麵未打印。

ZL-25：2 x 5英寸，無目標。75張/包。厚度為(wei) 0.11mm。卡背麵未打印。

ZL-48：4 x 8英寸，無目標。（不適用-已停產(chan) ）50張/包。厚度為(wei) 0.11mm。卡背麵未打印。

這種低能耗紙的能量閾值比ZAP-IT®激光校準紙低20％。在ZAP-IT®激光校準紙背麵提供的區域中記錄激光和光束規格。

使用ZAP-IT®激光校準紙記錄激光束特征

• 光束形狀

• 模式

• 強度

• 發散

• 能量分配

ZAP-IT®激光校準紙特性

• 脈衝(chong) 寬度範圍：1 ns至30ms

• 能量水平範圍：5mJ/cm²至20 J /cm²

• 在紫外線到紅外線的廣譜範圍內(nei) 敏感。

• 用於(yu) 將外部附件（例如擴束器，透鏡，光圈，衰減器和功率測量設備）對準激光束軸。

• 包裝在可重新密封的塑料袋中，便於(yu) 拿取和存儲(chu) 。

• 建立穩定的可視化數據庫。

使用ZAP-IT®激光校準紙

將紙張放在光束印記要被記錄的光束路徑中。脈衝(chong) 激光以產(chan) 生的視覺記錄，對應於(yu) 激光束內(nei) 的能量分布。對於(yu) 連續波（CW）激光器，請使用機械斬波器或Q開關(guan) 來產(chan) 生短脈衝(chong) 或物理方式快速開關(guan) 激光。

注意：始終佩戴激光防hu眼鏡

• 在進行ZAP-IT®燒錄之前，請移除光纖光束傳(chuan) 輸係統。光纖可以擾亂(luan) 光束的模式結構，從(cong) 而產(chan) 生均勻的圖案，該圖案不會(hui) 顯示激光束中的不規則性。

• 對於(yu) 直徑小於(yu) ¼（6.3 mm）的激光束，使用擴束透鏡增加直徑並在ZAP-IT®Burn中獲得更多細節。

• 在光束路徑中放置一個(ge) 正透鏡（最常見），並在>2.5倍透鏡焦距的距離處進行灼燒。該距離處的光束直徑大於(yu) 原點處的光束直徑。

• 增加或減少激光輸出能量水平，使細節在ZAP-IT®激光校準紙上清晰可見。

• 不是所有的激光器都具有足夠的輸出功率來留下詳細的灼傷(shang) 。作為(wei) 參考，具有至少10毫焦耳輸出的脈衝(chong) 激光（飛秒至50毫秒）通常將產(chan) 生良好的細節。

• 對於(yu) 沒有留下足夠細節的激光束脈衝(chong) ，將激光校準紙留在原位並施加幾個(ge) 脈衝(chong) 。

ZAP-IT®激光校準紙上的印記提供以下信息

• 反射鏡對準精度

• 能量分布，模式質量和邊緣清晰度

• 漸暈

• 未鍍膜或未正確放置的光學元件導致的二次反射

• 發散

• 光路中的光學損傷(shang)

保存ZAP-IT®燒蝕記錄，以便對校準和光束質量進行曆史評估和比較。原始設備製造商（OEM）和現場服務人員通常使用之前的燒蝕模式進行快速性能檢查。