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Layertec 優質基材

簡要描述:Layertec 優(you) 質基材
腔衰蕩時間光譜儀(yi) 或EUV鏡的特殊激光應用的優(you) 質基材的特點是:
Ø精確的幾何形狀:有關(guan) 直徑,厚度,折痕或曲率半徑等幾何特性的公差,請谘詢客服
Ø表麵粗糙度
Ø表麵形狀公差
Ø拋光表麵上的缺陷數量

  • 產品品牌:其他品牌
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2021-05-07
  • 訪  問  量:1179

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間麵議
組件類別光學元件應用領域醫療衛生,環保,化工,電子/電池,綜合

Layertec 優(you) 質基材

腔衰蕩時間光譜儀(yi) 或EUV鏡的特殊激光應用的優(you) 質基材的特點是:

Ø精確的幾何形狀:有關(guan) 直徑,厚度,折痕或曲率半徑等幾何特性的公差,請谘詢客服

Ø表麵粗糙度

Ø表麵形狀公差

Ø拋光表麵上的缺陷數量

LAYERTEC針對所有這些參數優(you) 化了拋光程序。 在下文中,我們(men) 就會(hui) 展示使用熔融二氧化矽和氟化鈣可獲得的出色結果。

規格

表麵粗糙度

ØRMS-熔融石英和氟化鈣的平麵基板的粗糙度<1.5Å

Ø在光滑彎曲的球形熔融石英表麵上得到相似的結果(取決(jue) 於(yu) 直徑和曲率半徑的比率)

Ø即使在紫外線範圍內(nei) ,基材的散射損耗也非常低:

ØTS = 2 x 10 – 5 at 248nm (total backscattering)

ØTS = 5.6 x 10 – 4 (total backscattering) and 7.5 x 10 – 4 (forward scattering) at 193 nm

Ø即使在DUV / VUV波長範圍內(nei) 也適用於(yu) 低損耗光學元件


高質量拋光熔融石英基板的功率譜密度(PSD)曲線(在FhG IOF Jena上執行的測量)


高質量拋光CaF2基板(在FhG IOF Jena執行)的3D AFM測量,均方根粗糙度0.12nm

Layertec 優(you) 質基材

表麵形狀公差

Fused silica

Plane

λ/20 (633nm) for diameters of 6.35mm … 101.6 mm

Spherical

λ/10 (633nm) for diameters of 6.35mm … 38.1mm

CaF2

Plane

λ/10 (633nm) for diameters of 12.7mm … 25.4 mm

λ/4 (633nm) for diameters of 38.1mm … 50.8 mm

Spherical

λ/4 (633nm) for diameters of 12.7mm ... 50.8mm

 

表麵質量

Material

ISO 10110 (25mm)

Approximately equivalent to MIL-O-13830

Fused Silica

5/1x 0.010 L1x 0.0005

Scratch - Dig 5 - 1

CaF2

5/1x 0.016 L1x 0.0010

Scratch - Dig 10 - 2

 

如何選基材

基材的價(jia) 格和質量取決(jue) 於(yu) 材料,形狀,尺寸,公差和拋光質量。在此站點上,我們(men) 將提供有關(guan) 上述每個(ge) 問題的更多信息。但是請注意:所有這些解釋都非常簡化。有關(guan) 詳細規範,請閱讀相關(guan) 標準的全文。我們(men) 也很高興(xing) 通過電話討論您的詳細問題。

材料

第一個(ge) 決(jue) 定是基板的材料。對於(yu) 高傳(chuan) 輸的所有波長,它都應無吸收。如果沒有發生傳(chuan) 輸,則可以使用低成本的材料,例如適用於(yu) 金屬鏡的Borofloat®(SCHOTT AG)。關(guan) 於(yu) 表麵形狀公差,低的熱膨脹是有利的。

形狀

必須分別為(wei) 兩(liang) 側(ce) 定形狀。基本上,平麵,凸麵和凹麵的所有組合都是可能的。特殊角色扮演著角色。可以在各種表麵(平麵以及凸麵或凹麵)上應用楔形物(例如30 arcmin)。對於(yu) 彎曲的基板,半徑符號有不同的約定。有時,“ +”表示凸形,“-”表示凹形。其他用戶將“ +”和“-”稱為(wei) 光傳(chuan) 播。在這種情況下,“ +”表示“沿傳(chuan) 播方向的曲率”,“-”表示“沿傳(chuan) 播方向的曲率”。為(wei) 避免混淆,請分別在單詞中或在首字母縮寫(xie) CC或CX上定凹形或凸形。

尺寸

主要決(jue) 定是邊緣長度或直徑。

除非另有說明,否則厚度描述是指基板的最大厚度,即平凸基板的中心厚度和平凹基板的邊緣厚度。因此,在較厚的一側(ce) 測量了楔形板。

為(wei) 了獲得良好的形狀公差,應該注意直徑和厚度的比率。根據經驗,厚度應為(wei) 直徑的五分之一。當然,其他比率也是可能的,但是生產(chan) 支出增加了。


規範不同類型的基板厚度的慣例(示意圖)

公差範圍

除尺寸和材料外,公差對價(jia) 格重要。當然,光學元件必須安裝在安裝座中,以使直徑不應大於(yu) 規定的直徑。最常見的規格是– 0.1mm。 通常,厚度在兩(liang) 個(ge) 方向上都是自由的。LAYERTEC通常定其公差為(wei) ±0.1mm。關(guan) 於(yu) 楔形,並行性和對中的規範存在很多困惑。請注意,楔形和平行度描述了光學表麵之間的角度,而居中描述了光學表麵和側(ce) 麵之間的角度(見圖2)。


圖2關(guan) 於(yu) 楔形和定心的各種平麵基板(示意圖)

LAYERTEC標準基材的平行度優(you) 於(yu) 5arcmin。 特製的並行可能具有低至10arcsec的並行度。 標準楔形基板的楔形度為(wei) 0.5°或1°。取決(jue) 於(yu) 基板尺寸,較大的楔角是可能的。通常,與(yu) 側(ce) 麵成90°角的精度為(wei) 20arcmin。定心是附加的光學處理,可將這種精度提高到幾弧分。

 

使用相同的術語,可以描述彎曲的基材。鏡子和鏡片之間應該有區別。鏡子基板的側(ce) 麵是平行的。然而,光軸的方向可以相對於(yu) 側(ce) 麵傾(qing) 斜。居中後,側(ce) 麵平行於(yu) 光軸。這樣,鏡麵基板就變成了透鏡。

表麵形狀公差

表麵形狀公差通常由幹涉儀(yi) 測量,並以λ為(wei) 參考值,λ是參考波長。無需進一步說明,參考波長為(wei) λ= 546nm。為(wei) 避免混淆,必須清楚地區分平坦度,功率和不規則度。下麵,將解釋平麵的平坦度和不規則度。


圖3區分平麵度,功率和不規則性的示意圖。第一基板的平坦度為(wei) λ/ 10。第二基板具有λ/ 4的冪以及λ/ 10的不規則度。第三基板在每個(ge) 表麵上具有λ/ 4的不規則性,但是透射波前的變形僅(jin) 為(wei) λ/ 10。

 

一般而言,每個(ge) 實際表麵或多或少都是彎曲的。想象一下,真實表麵的“峰”和“穀”被平行平麵覆蓋(見圖3)。這些平麵之間的距離稱為(wei) 平坦度。這種平坦性包括兩(liang) 個(ge) 方麵。第一個(ge) 貢獻是表麵的球形彎曲,這可以用兩(liang) 個(ge) 適合的“峰”和“穀”擬合球來描述。相對於(yu) 理想平麵的該曲率的弧矢表示為(wei) 冪。這種球形彎曲不會(hui) 影響反射光束的質量。它隻是導致有限的焦距。第二個(ge) 貢獻是最佳擬合球體(ti) 的偏差,稱為(wei) 不規則性。這是光束質量重要的值。

ISO 10110標準為(wei) 定表麵形狀公差提供了足夠的機會(hui) 。與(yu) 測量結果具有最佳的可比性,所有值均以幹涉條紋的數量給出。應將其讀取為(wei) 1條紋=λ/ 2。在圖紙中,將表麵形狀公差分配為(wei) 第三項:3 /功率(不規則性)。

示例:可以將規則的(λ/ 10)稍微彎曲(λ/ 4)的光學器件定為(wei) :3 / 0.5(0.2)。

僅(jin) 將光學器件用於(yu) 傳(chuan) 輸(例如激光窗口),功率和不規則性都無關(guan) 緊要。如果光學元件在整個(ge) 自由孔徑上具有相同的厚度,則透射光束不會(hui) 受到影響。與(yu) 平坦度相似的方式定義(yi) 了與(yu) 該相等性的偏差。它也以參考波長的一部分進行測量,稱為(wei) “透射波陣麵”。例如,圖3中的窗口的平坦度為(wei) λ/ 4,但透射波前為(wei) λ/ 10。”

塗層應力

通常,薄的基材無法承受塗層應力。塗層將導致球形變形。這意味著發生有限的矢狀麵或力量。對於(yu) 圓形基板,不規則性不受此問題影響。認真對待上述值,平坦度變差。然而,光束的質量不受影響。

瑕疵

MIL-O -13830和ISO10110是描述光學元件的不同標準。這通常會(hui) 導致模糊不清。 本上,應該區分劃痕和凹痕。MIL-O-13830中的劃痕和挖掘深度數字表示最大的劃痕寬度(以十分之一微米為(wei) 單位)和最大挖掘直徑(以百分之一毫米為(wei) 單位)。最大尺寸挖掘可以是直徑的每20mm一次。根據ISO10110,缺陷定為(wei) 項目編號5。等級編號表示二次區域的邊長(以毫米為(wei) 單位),它等於(yu) 總缺陷區域。因此5 / 1x0.025表示表麵缺陷麵積為(wei) 0.000625 mm2。此外,前導L表示任何長度的刮擦。寬度為(wei) 4微米的長刮擦將定為(wei) L 1 x 0.004。

標準質量基材

LAYERTEC的精密光學設備可生產(chan) 平麵和球麵彎曲的鏡麵基板,熔融石英的透鏡和棱鏡,BK7和SF10等光學玻璃以及某些晶體(ti) 材料,例如 氟化鈣。在以下內(nei) 容中,您可以找到有關(guan) 我們(men) 標準基板規格的信息。請不要猶豫,與(yu) 我們(men) 聯係以獲取其他尺寸,形狀,半徑和材料或特殊組件,例如棱鏡,標準具或彎月形透鏡。

規格

材料

熔融石英:Corning7980®或Lithosil®Q2(SCHOTT AG)

用於(yu) 高功率應用的熔融石英:Suprasil®300 / 3001/3002(Heraeus)

紫外熔融石英(準分子級)Lithosil®Q1 E -193和E-248(SCHOTT AG)紅外熔融石英:Infrasil302®(Heraeus)

BK7®:光學玻璃(SCHOTT AG)

CaF2:從(cong) 紫外線到紅外都是透明的,可根據要求提供準分子級質量的價(jia) 格

藍寶石:隨機取向,單晶,可根據要求提供特殊取向

YAG:未摻雜,隨機取向,單晶


∅: 直徑 [mm]

t: 厚度 [mm]

 

外型尺寸

Ø熔融石英,BK7:直徑6.35毫米…508毫米(¼英寸…20英寸)

Ø氟化鈣,YAG,藍寶石:直徑6.35毫米至50.8毫米(¼英寸至2英寸)

Ø可根據要求提供矩形基板和其他直徑

平麵基板,平行和楔形

Ø標準平麵基板:楔形<5arcmin

Ø標準平行:楔形<1arcmin或楔形<10arcsec

Ø標準楔子:楔形= 30arcmin或楔形= 1deg

平凹和平凸基材

Ø標準半徑:25、30、38、50、75、100、150、200、250、300、400、500、600、750、1000、2000、3000、4000、5000mm

Ø楔形:CaF2:楔形<15min,所有其他材料:楔形<5min

公差範圍

Ø直徑:+0毫米,-0.1毫米

Ø厚度:±0.1mm


•∅:直徑[mm]

•te:邊緣厚度[mm]

•tc:中心厚度[mm]

表麵形狀公差

Fused silica

λ/10 (633nm)

BK7

λ/10 (633nm)

CaF2
Plane

 6.35mm … 25.4mm

λ/10 (633nm),

 38.1 … 50.8mm

λ/4 (633nm)

Sapphire

5/3 x 0.025 L20 x 0.0025

YAG

5/1 x 0.025 L2 x 0.004

YAG

5/1 x 0.025 L2 x 0.004

表麵質量

Material

ISO 10110 (25mm)

Approximately equivalent to MIL-O-13830

Fused Silica

5/1 x 0.025 L1x 0.001

Scratch - Dig 10 - 3

BK7

5/2 x 0.040 L1x 0.001

Scratch - Dig 10 - 5

CaF2

5/3 x 0.025 L1x 0.0025

Scratch - Dig 20 - 3

Sapphire

5/3 x 0.025 L20 x 0.0025

Scratch - Dig 40 - 3

YAG

5/1 x 0.025 L2 x 0.004

Scratch - Dig 40 - 3

 

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