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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 麵議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,電子/電池,綜合 |
Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1
我們(men) 擁有一係列高性能，高可靠性的單個(ge) 熒光帶通濾光片，這些濾光片已針對各種熒光儀(yi) 器進行了優(you) 化。這些濾光片隻利用我們(men) 的單基層結構，以達到最高的性能和可靠度。
除非另有說明，否則所有過濾器均采用標準25 mm圓形黑色陽極氧化鋁環封裝，其厚度如圖所示，透明孔徑至少為(wei) 21 mm。用“- d”表示的部件將被卸載。
Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1
中心波長 | 平均透射率以及帶寬 | 安裝尺寸（直徑x厚度） | 玻璃厚度 | 型號 |
403 nm | See VersaChrome EdgeTM filters, page 78 | FF01-403/95-25 | ||
405 nm | See Laser Diode Clean-Up filters, page 94 | LD01-405/10-25 | ||
405 nm | > 87% over 10 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-405/10-25 |
405 nm | > 90% over 150 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-405/150-25 |
406 nm | > 85% over 15 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-406/15-25 |
414 nm | > 90% over 46 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-414/46-25 |
415 nm | > 90% over 10 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-415/10-25 |
417 nm | > 90% over 60 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-417/60-25 |
420 nm | > 90% over 5 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-420/5-25 |
420 nm | > 90% over 10 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-420/10-25 |
425 nm | > 90% over 26 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-425/26-25 |
427 nm | > 93% over 10 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-427/10-25 |
433 nm | > 93% over 24 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-433/24-25 |
434 nm | > 90% over 17 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-434/17-25 |
435 nm | > 90% over 40 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-435/40-25 |
438 nm | > 93% over 24 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-438/24-25 |
439 nm | > 93% over 154 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-439/154-25 |
440 nm | > 93% over 40 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-440/40-25 |
442 nm | > 90% over 46 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-442/46-25 |
445 nm | > 93% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-445/20-25 |
445 nm | > 90% over 40 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-445/40-25 |
445 nm | > 90% over 45 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-445/45-25 |
447 nm | > 93% over 60 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF02-447/60-25 |
448 nm | > 93% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-448/20-25 |
450 nm | > 90% over 70 mm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-450/70-25 |
452 nm | > 93% over 45 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-452/45-25 |
457 nm | > 90% over 50 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-457/50-25 |
458 nm | > 90% over 64 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-458/64-25 |
460 nm | > 90% over 14 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.0 mm | FF01-460/14-25 |
460 nm | > 90% over 60 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-460/60-25 |
460 nm | > 90% over 80 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-460/80-25 |
461 nm | > 90% over 5 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-461/5-25 |
465 nm | > 90% over 30 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-465/30-25 |
466 nm | > 90% over 5 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-466/5-25 |
466 nm | > 93% over 40 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-466/40-25 |
469 nm | > 90% over 35 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-469/35-25 |
470 nm | > 93% over 22 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-470/22-25 |
470 nm | > 90% over 28 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-470/28-25 |
470 nm | > 93% over 100 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-470/100-25 |
472 nm | > 93% over 30 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-472/30-25 |
473 nm | > 90% over 10 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-473/10-25 |
474 nm | > 93% over 23 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-474/23-25 |
474 nm | > 93% over 27 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-474/27-25 |
475 nm | > 90% over 20 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF02-475/20-25 |
475 nm | > 92% over 23 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-475/23-25 |
475 nm | > 90% over 28 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-475/28-25 |
475 nm | > 90% over 35 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-475/35-25 |
475 nm | > 90% over 42 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-475/42-25 |
475 nm | > 93% over 50 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-475/50-25 |
479 nm | > 90% over 40 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-479/40-25 |
480 nm | > 92% over 17 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-480/17-25 |
480 nm | > 90% over 40 nm | 25 mm x 3.5 mm | 1.05 mm | FF01-480/40-25 |
482 nm | > 93% over 18 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-482/18-25 |
482 nm | > 93% over 25 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-482/25-25 |
482 nm | > 93% over 35 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-482/35-25 |
483 nm | > 93% over 32 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-483/32-25 |
485 nm | > 93% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-485/20-25 |
488 nm | > 90% over 6 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-488/6-25 |
488 nm | > 93% over 10 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-488/10-25 |
488 nm | > 93% over 50 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-488/50-25 |
490 nm | > 93% over 60 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-490/60-25 |
494 nm | > 93% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-494/20-25 |
494 nm | > 90% over 41 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-494/41-25 |
496 nm | > 90% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.0 mm | FF01-496/20-25 |
497 nm | > 90% over 16 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-497/16-25 |
500 nm | > 90% over 10 nm | 25 mm x 3.5 mm | 1.05 mm | FF01-500/10-25 |
500 nm | > 93% over 15 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-500/15-25 |
500 nm | > 93% over 24 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-500/24-25 |
503 nm | > 93% over 40 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-503/40-25 |
504 nm | > 93% over 12 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-504/12-25 |
509 nm | > 93% over 22 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-509/22-25 |
510 nm | > 93% over 10 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF02-510/10-25 |
510 nm | > 93% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF03-510/20-25 |
510 nm | > 90% over 42 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-510/42-25 |
510 nm | > 93% over 84 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-510/84-25 |
511 nm | > 90% over 20 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-511/20-25 |
512 nm | > 92% over 25 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-512/25-25 |
513 nm | > 90% over 17 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-513/17-25 |
514 nm | > 93% over 3 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-514/3 -25 |
514 nm | > 93% over 30 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-514/30-25 |
514 nm | > 93% over 44 nm | 25 mm x 3.5 mm | 1.05 mm | FF01-514/44-25 |
517 nm | > 90% over 20 nm | 25 mm x 5.0 mm | 3.5 mm | FF01-517/20-25 |
520 nm | > 93% over 5 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-520/5-25 |
520 nm | > 93% over 15 nm | 25 mm x 5.0 mm | 2.0 mm | FF01-520/15-25 |
520 nm | > 93% over 28 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF02-520/28-25 |
520 nm | > 93% over 35 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-520/35-25 |
520 nm | > 90% over 44 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-520/44-25 |
520 nm | > 90% over 60 nm | 25 mm x 3.5 mm | 2.0 mm | FF01-520/60-25 |
光學濾光片簡介
濾光片選擇性地透射光譜的一部分，同時拒絕透射其餘(yu) 部分。愛特蒙特光學的光學濾光片常用於(yu) 顯微鏡、光譜學、化學分析和機器視覺，可提供各種過濾類型和精度等級。本應用筆記介紹了用於(yu) 製造愛特蒙特光學濾光片的不同技術、一些關(guan) 鍵規範的定義(yi) 以及愛特蒙特光學提供的各種濾光片的描述。
光學濾光片關(guan) 鍵術語
雖然濾光片與(yu) 其他光學組件有許多相同的規範，但是為(wei) 了有效地了解並確定哪種濾光片適合您的應用，應該了解濾光片中的許多特定規範。
中心波長 (CWL)
用於(yu) 定義(yi) 帶通濾光片的中心波長描述頻譜帶寬的中點，濾光片在此之上傳(chuan) 輸。傳(chuan) 統的鍍膜光學濾光片傾(qing) 向於(yu) 在中心波長附近達到大的透射率，而鍍加硬膜的光學濾光片往往在光譜帶寬上有相當平坦的傳(chuan) 輸輪廓。
帶寬
帶寬是一個(ge) 波長範圍，用於(yu) 表示頻譜通過入射能量穿過濾光片的特定部分。帶寬又稱為(wei) FWHM（圖1）。
圖 1: 中心波長和半峰全寬說明
半峰全寬 (FWHM)
FWHM
描述帶通濾光片將傳(chuan) 輸的頻譜帶寬。該帶寬的上限和下限是在濾光片達到大透射率的 50% 時的波長下定義(yi) 的。例如，如果濾光片的大透射率是 90%，那麽(me) 濾光片達到透射率之 45% 時的波長將定義(yi) FWHM 的上限和下限。10 納米或更低的 FWHM 被認為(wei) 是窄帶，通常用於(yu) 激光淨化和化學檢測。25-50 納米的 FWHM 經常用於(yu) 機器視覺應用；超過 50 納米的 FHWM 被認為(wei) 是寬帶，通常用於(yu) 熒光顯微鏡應用。
截止範圍
阻斷範圍是用於(yu) 表示通過濾光片衰減的能量光譜區域的波長間隔（圖2）。阻斷程度通常會(hui) 在光密度中定。
圖 2: 截止範圍說明
斜率
斜率是通常在邊緣濾光片上定義(yi) 的規範，如短波通或長波通濾光片，用來描述濾光片從(cong) 高截止轉換為(wei) 高透射率的帶寬。可以從(cong) 各種起點和終點定斜率，作為(wei) 截止波長的百分比。愛特蒙特光學有限公司通常將斜率定義(yi) 為(wei) 從(cong) 10% 傳(chuan) 輸點到 80% 傳(chuan) 輸點的距離。例如，將期望具有 1% 斜率的 500 納米長波通濾光片在 5 納米（500 納米的 1%）帶寬上從(cong) 10% 的透射率轉換為(wei) 80% 的透射率。
光密度(OD)
光密度描述被濾光片阻斷或拒絕的能量量。高光密度值表示低透射率，低光密度則表示高透射率。6.0或更大的光密度用於(yu) 兩(liang) 端的阻斷需求，如拉曼光譜或熒光顯微鏡。3.0-4.0的光密度是激光分離和淨化、機器視覺和化學檢測的理想選擇，而 2.0 或更少的光密度是顏色排序和分離光譜順序的理想選擇。
圖3:光密度說明
二向色性濾光片
二向色性濾光片是用於(yu) 取決(jue) 於(yu) 波長透射率或反射光的濾光片類型；特定波長範圍透射的光則鑒於(yu) 不同範圍的光線反射或吸收（圖4）。二向色性濾光片常用於(yu) 長波通和短波通應用。
圖4:二向色性濾光片鍍膜說明
起始波長
起始波長是用於(yu) 表示在長波通濾光片中透射率增加至50%波長的術語。起始波長由圖5中的λcut-on起始表示。
圖 5:起始波長說明
截止波長
截止波長是用於(yu) 表示在短波通濾光片中透射率降低至50%波長的術語。截止波長由圖6中的λcut-off截止表示。
圖6:截止波長說明
Semrock成功地將穩定*的濺射沉積係統與(yu) 沉積控製技術，不同的預測算法，工藝改進和批量生產(chan) 能力相結合。Semrock性能優(you) 良的光學濾光片為(wei) 生物技術和分析儀(yi) 器行業(ye) 樹立了標準。
Semrock濾光片全部由離子束濺射和專(zhuan) 有的單基片結構製成，可實現較高的透射率。更加陡峭的邊緣，準確的波長精度和精心優(you) 化的遮擋意味著更好的對比度和更快的測量-即使在紫外線波長下也是如此。
Semrock濾光片具有很長的使用壽命和優(you) 良的性能，可確保獲得優(you) 良的圖像。與(yu) 升級相機和物鏡的成本相比，它們(men) 可能是提高顯微鏡性能的簡單經濟的方法。
經驗證的可靠性
所有Semrock濾光片均具有出色的可靠性。簡單的全玻璃結構加上離子束濺射硬玻璃塗層（與(yu) 塗層玻璃一樣堅硬）意味著它們(men) 幾乎不受濕度和溫度引起的降解的影響，並且易於(yu) 清潔和處理。
我們(men) 充滿信心地為(wei) 濾光片提供全麵保修，讓您放心。我們(men) 的濾光片經過精心設計，可以在逐年測試中保持其高水平的性能，並通過消除費用和更換成本的不確定性來降低您的擁有成本。
下圖顯示了隨著時間的推移，氙弧燈的暴露如何影響每個(ge) 濾光片的光譜特性。一天之後，傳(chuan) 統的軟塗層DAPI濾光片的透射率下降了42％。我們(men) 對其他常見的勵磁濾光片進行了類似的測試，發現每個(ge) 軟塗層濾光片都會(hui) 損失傳(chuan) 輸和通帶，而硬塗層Semrock濾光片則不會(hui) 受到影響。
Semrock濾光片已經過測試，可以滿足或超過在苛刻的軍(jun) 事規格MIL-STD-810F，MIL-C-48497A，MIL-C-675C和國際標準ISO 9022-中規定的環境和物理耐久性要求。
可重複的結果
無論您是從(cong) 一次運行還是從(cong) 最後一次運行使用濾光片，結果都將始終相同。 我們(men) 高度自動化的批量生產(chan) 係統會(hui) 密切監控流程的每個(ge) 步驟，以確保每個(ge) 濾光片的質量和性能。 最終用戶受益於(yu) 濾光片之間可變性的降低，OEM製造商可以依靠安全可靠的供應線。
Kola Deep™光譜測量係統：測量更深的阻擋
圖1：即使在紫外線遠處，Kola Deep係統也能準確測量狹窄的LaserLine濾光片（Semrock LL01-248），其陡峭的邊緣從(cong) 高透射率到超過OD7。藍色顯示的Kola Deep測量值可以準確地跟蹤綠色的理論曲線。 為(wei) 了進行比較，標準光譜儀(yi) （Perkin Elmer Lambda 950）的測量結果以紅色顯示，並在OD 3處停止跟蹤邊緣。
可樂(le) 深光譜測量係統將光密度（OD）理論帶入了測量現實。 我們(men) 的工程師開發了一套專(zhuan) 有的新係統，可以對Semrock品牌光學濾波器的陡和深光譜特征進行可靠的測量，從(cong) 而確保您的儀(yi) 器將提供優(you) 良的靈敏度。
ØKola Deep可以評估在紫外，可見和近紅外光譜中對OD 9+的阻擋
ØKola Deep解決(jue) 了相對於(yu) 邊緣波長大於(yu) 0.2％的邊緣，從(cong) 90％透射到OD 7以上的問題
濾光片的測量
由於(yu) 標準計量技術的局限性，經常無法準確地確定薄膜幹涉濾光片的測量光譜特性，尤其是在邊緣較陡而較深的情況下。 光學濾波器提供的實際阻塞不僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 其設計頻譜，還取決(jue) 於(yu) 濾波器的物理缺陷，例如在薄膜塗層過程中產(chan) 生的針孔以及諸如灰塵或灰塵之類的表麵缺陷。 使用市場上可買(mai) 到的分光光度計來測量光學濾光片的光譜性能，但是當光學濾光片具有較高的邊緣陡度和/或非常深的阻塞時，這些儀(yi) 器可能會(hui) 受到重大限製。
由於(yu) 這些限製，實際濾波器頻譜與(yu) 其測得的表示之間存在三個(ge) 主要差異（見圖2）。 一個(ge) 差異是尖銳的光譜特征的“四舍五入”。 這是由於(yu) 分光光度計探頭光束的帶寬不為(wei) 零所致。 第二個(ge) 測量差異是有限的OD測量範圍，這是分光光度計靈敏度有限的結果。 第三差異是從(cong) 高阻塞到高傳(chuan) 輸的非常陡峭過渡的測量所不同的，被稱為(wei) “邊帶測量偽(wei) 像”。 該偽(wei) 像是由非單色探測光束引起的，該探測光束在其帶寬之外的波長處也具有較弱的邊帶。
圖2：使用商用分光光度計觀察到的測量偽(wei) 影
Semrock利用替代方法來評估濾光片光譜。圖3顯示了“ E級”RazorEdge®濾光片的陡峭邊緣的五個(ge) 測量光譜，該光譜可確保在OD> 6的情況下阻擋532 nm的激光線，並在激光波長的0.5％之內(nei) 過渡到高透射率（534.7倍）納米）。測得的光譜覆蓋在濾波器的設計光譜上（藍線）。如圖所示，測量儀(yi) 器和技術極大地影響了濾波器的測量光譜。該圖中的測量方法A來自定製的分光光度計。此測量使用儀(yi) 器設置，例如較短的檢測器積分時間和低分辨率，因為(wei) 這些設置經過優(you) 化，可在薄膜濾光片製造過程中從(cong) 大量樣品濾光片非常快速地收集數據。但是，這種方法的靈敏度和分辨率很差。測量方法B使用標準的商業(ye) 分光光度計（Perkin Elmer Lambda 900係列）。如上所述，實際濾波器光譜與(yu) 測量光譜之間的所有差異在此測量中都是顯而易見的。測量方法C和D使用與(yu) 方法A相同的定製分光光度計。該分光光度計的基本工作原理如圖4所示。該儀(yi) 器使用低噪聲CMOS攝像頭（即檢測器陣列），能夠測量同時具有很寬的波長範圍。測量方法C使用的儀(yi) 器設置（主要是積分時間和分辨率）設計用於(yu) 增強對陡峭邊緣和深邊緣的測量，但是“邊帶測量偽(wei) 影”仍然很明顯。測量方法D是對方法C的修改，該方法應用了其他過濾以消除此偽(wei) 像。方法E顯示了使用經過仔細過濾的532 nm激光進行的非常準確的測量結果，以及濾光器本身的角度調整。使用理論模型，將實驗獲得的透射率與(yu) 角度的數據轉換為(wei) 透射率與(yu) 波長的結果。此測量方法接近實際設計曲線，但是不適用於(yu) 大量過濾器的質量保證。
圖3：使用文中所述的不同測量方法，同一濾波器（圖1）的設計和測量光譜
圖4：定製的分光光度計，可實現更快，更準確的測量
總之，重要的是要了解用於(yu) 生成光學濾光片光譜的測量技術，因為(wei) 這些技術並不很優(you) 良。 對給定的過濾器或應用程序使用適當的測量方法可以減少錯誤，並減少使用過濾器的實驗和係統的過度設計，從(cong) 而優(you) 化性能，結果，甚至過濾器成本。
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